SK하이닉스1 9. 검사 및 테스트 공정 – 수율을 결정짓는 마지막 관문 9. 검사 및 테스트 공정 – 수율을 결정짓는 마지막 관문반도체는 수백 개 공정을 거쳐 완성되지만, 그 모든 칩이 정상적으로 동작하는 건 아닙니다. 그래서 출하 전에 하나하나 확인하고 분류하는 작업, 바로 검사 및 테스트 공정이 반드시 필요합니다.이 공정은 제품의 품질과 수율을 좌우하는 반도체 제조의 마지막 핵심 단계입니다.1) 웨이퍼 검사(Wafer Inspection)회로가 새겨진 웨이퍼는 포토, 식각, 증착 등 각 단계 후마다 이상이 없는지 검사합니다. 표면 결함 검사: 먼지, 스크래치, 오염물 감지 회로 불량 검사: 패턴 밀림, 식각 실패 확인 AOI(자동 광학 검사) 장비로 빠르게 전체 웨이퍼 검사결함은 조기에 발견해야 수율 손실을 줄이고 불량 전파를 방지할 수 있습니다.2) 전.. 2025. 5. 8. 이전 1 다음